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日本otsukael多通道光譜儀 MCPD-9800/6800 這是一款涵蓋紫外到近紅外區(qū)域的多功能多通道光譜檢測(cè)器。光譜測(cè)量可在短至 5 毫秒內(nèi)完成。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的光纖可用于各種測(cè)量系統(tǒng)，無(wú)需樣品類型。除了顯微光譜、光源發(fā)射和透射/反射測(cè)量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，用于物體顏色評(píng)估和薄膜厚度測(cè)量。能夠從低亮度到高亮度進(jìn)行高速、高精度測(cè)量的光譜輻射亮度計(jì)。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本otsukael Zeta 電位/粒徑測(cè)量系統(tǒng) ELSZneoSE 可根據(jù)應(yīng)用增加功能（分子量測(cè)量、顆粒濃度測(cè)量、微流變學(xué)測(cè)量、凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)量）。 使用標(biāo)準(zhǔn)流通池連續(xù)測(cè)量粒徑和 zeta 電位 可在從稀溶液到濃溶液（高達(dá) 40%）的寬濃度范圍內(nèi)測(cè)量粒徑和 zeta 電位
更新時(shí)間：2024-07-12
日本otsukael 電位/粒徑/分子量測(cè)量系統(tǒng)ELSZneo ELSZ 系列中的最高型號(hào)，除了可以測(cè)量稀溶液到濃溶液中的 zeta 電位和粒徑外，還可以測(cè)量分子重量。作為一項(xiàng)新功能，多角度測(cè)量已被采用，以提高粒度分布的分辨率。它還可以進(jìn)行顆粒濃度測(cè)量、微流變學(xué)測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。 新型zeta電位平板電池單元具有新開(kāi)發(fā)的高鹽涂層，可以在鹽水等高鹽環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。我們還有一系列超微量細(xì)胞單元，
更新時(shí)間：2024-07-12
日本napson晶圓平面度測(cè)量系統(tǒng)FLA-200 支持厚度測(cè)量、PN判斷、溫度測(cè)量（硅晶圓） 自檢功能，測(cè)量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測(cè)量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時(shí)間：2024-07-12
日本napson非接觸式電阻計(jì) EC-80 支持厚度測(cè)量、PN判斷、溫度測(cè)量（硅晶圓） 自檢功能，測(cè)量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測(cè)量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時(shí)間：2024-07-12
日本napson4探針?lè)ㄈ詣?dòng)測(cè)量分選機(jī) WS-8800 支持厚度測(cè)量、PN判斷、溫度測(cè)量（硅晶圓） 自檢功能，測(cè)量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測(cè)量） 可根據(jù)要求容納任意數(shù)量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時(shí)間：2024-07-12
日本napson薄層電阻的 4 探針測(cè)量?jī)xRT70V系列 半導(dǎo)體及太陽(yáng)能電池材料（硅、多晶硅、SiC等） 新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等） 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等） 擴(kuò)散樣品 硅基外延、離子注入樣品
更新時(shí)間：2024-07-12
日本technomate壓力調(diào)整閥 DPR 適用于一般制冷、水冷機(jī)組、低溫運(yùn)輸箱、熱泵式空調(diào)器、空調(diào)等
更新時(shí)間：2024-07-12
日本technomate熱力膨脹閥 SCX 適用于一般制冷、水冷機(jī)組、低溫運(yùn)輸箱、熱泵式空調(diào)器、空調(diào)等
更新時(shí)間：2024-07-12
日本technomate冷媒用電磁閥RPV 型 全新設(shè)計(jì)采用大幅提高視覺(jué)性的刻度板 小型,輕便 除自動(dòng)復(fù)位、高壓手動(dòng)復(fù)位,高低壓手動(dòng)復(fù)位型等種類
更新時(shí)間：2024-07-12
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