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更新時(shí)間：2024-07-12
metrixvibrati便攜式測(cè)振儀5500 設(shè)計(jì)用于接受來自安裝在機(jī)器外殼上的速度傳感器、加速度計(jì)或軸觀察接近探頭系統(tǒng)的信號(hào)，并產(chǎn)生與測(cè)量變量成比例的 4-20 mA 輸出。這種智能振動(dòng)信號(hào)調(diào)節(jié)器具有兩個(gè)獨(dú)立的通道和一個(gè)刻度輸出功能，可以為各種單位選擇，例如 RMS、峰值或峰峰值（如果使用接近傳感器）。5580 帶有用于訪問原始信號(hào)的 BNC、用于傳感器狀態(tài)的 LED 以及顯示每個(gè)通道
更新時(shí)間：2024-07-12
metrixvibrati智能振動(dòng)信號(hào)調(diào)理器5580 設(shè)計(jì)用于接受來自安裝在機(jī)器外殼上的速度傳感器、加速度計(jì)或軸觀察接近探頭系統(tǒng)的信號(hào)，并產(chǎn)生與測(cè)量變量成比例的 4-20 mA 輸出。這種智能振動(dòng)信號(hào)調(diào)節(jié)器具有兩個(gè)獨(dú)立的通道和一個(gè)刻度輸出功能，可以為各種單位選擇，例如 RMS、峰值或峰峰值（如果使用接近傳感器）。5580 帶有用于訪問原始信號(hào)的 BNC、用于傳感器狀態(tài)的 LED 以及顯示每個(gè)通道
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metrixvibrati速度變送器ST5484E 地震變送器提供與振動(dòng)幅度成比例的 4-20mA 直流信號(hào)輸出，非常適合使用 PLC、DCS 或其他自動(dòng)化系統(tǒng)代替獨(dú)立振動(dòng)監(jiān)測(cè)器的應(yīng)用。 Metrix 提供具有多種工作溫度、頻率響應(yīng)、比例因子、外殼材料、連接器類型、安裝選項(xiàng)和危險(xiǎn)區(qū)域認(rèn)證的地震變送器。
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metrixvibrati 壓電速度傳感器SV6300 有兩種不同類型的速度傳感器——固態(tài)和動(dòng)圈式。固態(tài)速度傳感器實(shí)際上使用了一個(gè)加速度計(jì)以及一個(gè)集成電路和一個(gè)放大器，該放大器產(chǎn)生與傳感器看到的速度成比例的輸出。 動(dòng)圈式速度傳感器由兩個(gè)主要部件組成 - 動(dòng)圈和永磁體，線圈在永磁體的磁場(chǎng)中移動(dòng)并產(chǎn)生自己的能量。任何給定的振動(dòng)輸入都會(huì)引起發(fā)電機(jī)動(dòng)作（電動(dòng)勢(shì)），從而產(chǎn)生電壓，該電壓與傳感器的輸入速度
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metrixvibration加速度計(jì)傳感器SA6200A API 670 生的電荷與施加在機(jī)器或結(jié)構(gòu)上的力所產(chǎn)生的加速度成正比。在旋轉(zhuǎn)和往復(fù)運(yùn)動(dòng)的機(jī)器中，力是內(nèi)部的，我們用加速度計(jì)測(cè)量套管運(yùn)動(dòng)。 加速度計(jì)可以測(cè)量動(dòng)態(tài)或靜態(tài)加速度。動(dòng)態(tài)加速度是我們?cè)谡駝?dòng)的旋轉(zhuǎn)或往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)器上測(cè)量的。靜態(tài)
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日本otsukael光譜分布測(cè)量系統(tǒng) GP系列 通過光學(xué)方法可以進(jìn)行非接觸式和非破壞性的厚度測(cè)量。 實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性 可實(shí)時(shí)高速監(jiān)控拋光 實(shí)現(xiàn)了長 WD（工作距離）并且易于集成到設(shè)備中 從主機(jī)設(shè)備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進(jìn)行控制 可以進(jìn)行多層厚度測(cè)量 可測(cè)量臨時(shí)晶圓（臨時(shí)鍵合晶圓）各層厚度
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日本otsukael光譜干涉式晶圓測(cè)厚儀SF-3 通過光學(xué)方法可以進(jìn)行非接觸式和非破壞性的厚度測(cè)量。 實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性 可實(shí)時(shí)高速監(jiān)控拋光 實(shí)現(xiàn)了長 WD（工作距離）并且易于集成到設(shè)備中 從主機(jī)設(shè)備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進(jìn)行控制 可以進(jìn)行多層厚度測(cè)量 可測(cè)量臨時(shí)晶圓（臨時(shí)鍵合晶圓）各層厚度
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日本otsukael 顯微分光膜厚儀OPTM系列 OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測(cè)量微小區(qū)域的絕對(duì)反射率來實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。 各種薄膜、晶圓、光學(xué)材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測(cè)量?？梢赃M(jìn)行1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本otsukael 高靈敏度光譜輻射儀 HS-1000 能夠測(cè)量從0.005cd/m2的超低亮度到400,000cd/ m2的高亮度 支持 CIE 推薦的寬波長范圍（355nm 至 835nm） 專有光學(xué)系統(tǒng)減少了偏光誤差 (1%)， 可以
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