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產(chǎn)品分類技術(shù)文章/ article
更新時間：2026-04-02 
瀏覽次數(shù)：36在高價值光學元件的制造與檢測領(lǐng)域，精度與效率是衡量檢測設(shè)備的核心標準。Hinds Instruments 推出的 Exicor 300AT 雙折射測量系統(tǒng)，憑借其獲獎的光彈性調(diào)制器（PEM）技術(shù)，重新定義了平行面光學元件的評估標準。這不僅是一臺測量儀器，更是下一代工業(yè)計量的生產(chǎn)力工具。
極的高的測量靈敏度：能夠檢測到極其微弱的雙折射信號。
非接觸式測量：保護昂貴的光學表面不受損傷。
理論支撐：系統(tǒng)不僅能測量光學延遲（Retardation）和快軸取向，還能基于這些數(shù)據(jù)評估材料的理論殘余應(yīng)力，為材料質(zhì)量控制提供關(guān)鍵依據(jù)。
Exicor 300AT 專為工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計，具備強大的物理承載能力和極的致的測量精度，是名副其實的“生產(chǎn)級工作馬"。
1. 寬廣的測量范圍與承載能力
| 關(guān)鍵指標 | 參數(shù)詳情 |
|---|---|
| 樣品臺行程 | 300mm × 300mm |
| 最的大樣品高度 | 100mm |
| 最的大承重 | 40kg |
| 適用對象 | 直徑或邊長300mm內(nèi)的平行面光學元件 |
2. 亞納米級的測量精度
延遲測量范圍：0 至 300+ nm。
分辨率/重復性：高達 0.001 nm（在3nm以內(nèi)重復性為 ±0.03 nm）。
測量精度：優(yōu)于 ±0.2 nm。
角度分辨率：0.01°。
光源波長：632.8 nm（標準氦氖激光波長）。
光斑尺寸：標稱直徑 1mm，確保細節(jié)捕捉能力。
3. 極的致的測量速度
效率是工業(yè)生產(chǎn)的生命線。Exicor 300AT 的數(shù)據(jù)采集速率超過 每秒 100 點（不含運動時間），配合自動掃描功能，大幅縮短了檢測周期。
系統(tǒng)搭載了專業(yè)的 Exicor ATS 軟件，操作界面友好，支持平行表面光學元件的全自動掃描。軟件能實時生成二維延遲圖和快軸取向圖，并提供詳盡的掃描統(tǒng)計數(shù)據(jù)。硬件方面，系統(tǒng)配備了 Windows 7 控制計算機、顯示器、狀態(tài)燈塔以及緊急停止按鈕，確保操作安全便捷。獨特的樣品臺前向裝載設(shè)計，增加了裝載樣品時的訪問空間，提升了操作體驗。
SIM（Scan In Motion）：實現(xiàn)掃描過程中移動，可縮短 50% 或更多 的掃描時間，掃描速度最的高可達 100mm/s。
高分辨率模式：通過采用探測器面 0.2mm 針孔照明技術(shù)，顯著減小測量光斑尺寸，提高空間分辨率。
低光平探測器：針對透光率極低或微弱光信號的特殊檢測需求提供支持。
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